デュアルタイプ膜厚計 LZ-373（ケツト科学研究所）

　 特長

従来の膜厚計よりデータメモリ、適合規格が増えました。

● デュアルタイプです。
　電磁式と渦電流式の両測定機能を備えたポケットサイズの膜厚計です。


● 膜厚計として充分な機能を装備しています。

　アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算（測定回数・平均値・標準
　偏差・最大値・最小値）、表示選択、日付・時刻、自動Off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、
　データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモードなどの16機能を必要に応じ設定することが可能です。

● アプリケーションメモリ（検量線メモリ）機能。
　電磁式・渦電流式各50種、計100本までの調整済みのアプリケーション（検量線）を記憶していますから、同一測定であれば2度目からは面倒な調整なしに測
　定ができます。この記憶は電源を切っても消えません。


● 小型・軽量のコンパクトボディ。
　大きさは幅75mm、長さ145mm、厚さ31mm、質量340g。片手に入る大きさですから、測定現場でも手軽に使用できます。

　 測定原理

● 電磁式（磁性金属上の非磁性被膜の測定）
　交流電磁石を鉄（磁性金属）に接近させると、接近距離によって、コイルを貫く磁束数が変化し、そのためコイルの両端にかかる電圧が変化します。
　この電圧変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが電磁式膜厚計で、磁性金属上の非磁性被膜の測定用です。


● 渦電流式（非磁性金属上の絶縁被膜の測定）
　一定の高周波電流を流したコイルを金属に近づけると、金属表面上に渦電流が生じます。
　この渦電流はコイルと金属面との距離に応じて変化し、そのためコイルの両端にかかる電圧も変化します。
　この変化を電流値から読み取り、膜厚に換算したのが渦電流式膜厚計で、非磁性金属上の絶縁被膜の測定用です。

　 測定対象の適用

　 画面表示

　 よくある質問

メッキの塗膜は測定できますか？

Answer!

A、Feプローブをご使用いただき、メッキ部分が非磁性体であれば測定が可能です。
例えばクロムメッキ・亜鉛メッキであれば測定可能ですが、ニッケルメッキは測定できません。

　 仕様

測定方式	電磁誘導式/渦電流式兼用
測定対象物	磁性金属上の非磁性被膜 非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	電磁誘導式：0～2500μmまたは99.0mils 渦電流式：0～1200μmまたは47.0mils
測定精度	50μm未満：±1μm、50μm以上1000μm未満：±2％、1000μm以上：±3％
分解能	100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
適合規格	電磁誘導式：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
データメモリ数	約39,000点
検量線メモリ	アプリケーションメモリ：電磁誘導式50本、渦電流式50本
付加機能	アプリケーション選択、素地補正、データ削除、データメモリ、上下限設定、統計計算（測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値）、表示選択、日付・時刻、自動 off 時間、バックライト明るさ、バックライト時間、単位、データ出力、自動ロット区分、測定方法、メンテナンスモード
プローブ	一点接触定圧式（LEP-J、LHP-J）
表示方法	デジタル（バックライト付LCD 128×64 dots、表示最小桁0.1μm）
外部出力	パソコン（USBまたはRS-232C）に出力可能
電源	電池1.5V（単3アルカリ）×4
消費電力	80mW（バックライト非点灯時）
電池寿命	100時間（バックライト非点灯時、連続使用）
動作環境温度	0～40℃
寸法	75（W）×145（D）×31（H）mm
重量	0.34kg

　 構成品

標準構成品	本体、標準板×5(50μm,100μm,300μm,500μm,1000μm)、ゼロ板ホルダ(鉄素地/非鉄素地)、Feプローブ(LEP-J)、NFeプローブ(LHP-J)、プローブアダプタ、データ管理ソフト(CD-R)、パソコンケーブル(RS-232C)、RS-232C USB変換器、収納ケース、取扱説明書

　※対応最新OS:Windows7