
| こちらの製品は取扱い終了致しました。
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|  溶接部の探傷例 |  ペンシルプローブ使用例 |  片手に持って検査可能 | 
|  溶接ビード上の探傷 | |
|  熱影響部の探傷 | |
|  きず長さの特定 |  溶接ビード上の欠陥信号の例 | 
 
            

 コイルを通じて金属に励磁する渦電流は表面で最大となり、内部につれて減衰します。
コイルを通じて金属に励磁する渦電流は表面で最大となり、内部につれて減衰します。
            標準浸透深さとは、渦電流が表面値の1 /e(37%)である深さを定義します。
          
      
 実用周波数において磁性材料中での浸透深さは非常に小さくなります(透磁率)
            材料が磁化されるものとしてあげられます。
実用周波数において磁性材料中での浸透深さは非常に小さくなります(透磁率)
            材料が磁化されるものとしてあげられます。
            磁性材料の比透磁率は数百になることがあり、渦電流に大きな影響を及ぼします。
            又、局部の応力,熱影響などの要因で金属内部は不均一な透磁率となります。
          
          
          
          
| 試験周波数 | 標準モード:10Hz〜 10MHz | 
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| ディスプレイ | カラー液晶ディスプレイ 保護用硬質皮膜付アクリルウィンドウ 解像度 320×240画素 表示画面サイズ 117.2×88.4 mm | 
| 感度 | X, Y軸同時または X, Y軸単独調整 −8 dB 〜+96 dB,(0.1dBステップ) 入力ゲイン:0 dBまたは 14 dB ドライブ電圧:−8, 0, +8 dB | 
| フィルタ | ローパス:3Hz 〜1500Hz(2440ステップ) ハイパス:DC-Ultra-1〜1200Hz(1675ステップ) | 
| アラーム | ボックス形、セクター(扇形) | 
| 位相 | 0°〜359.9°
                  (0.1°ステップ) 自動リフトオフ位相調整機能 | 
| 内部データ保存 | 波形、探傷条件(各々最大 200件) | 
| 導電率測定 | 導電率( 1〜110%IACS)の測定が可能 | 
| プローブ | 絶対値式標準プローブ(50Ωインピーダンス) 差動式プローブ(ウェルド・スキャン・プローブ) | 
| バランスロード | 手動/自動選択 (1.3, 8.2, 22, 47, 82, 120μH) | 
| 出力 | アナログ出力(7ピン Lemo) VGA出力 | 
| PC接続 | USB接続 | 
| 重量 | 1.1kg(バッ テリ含む) | 
| 寸法 | 192×139×57 mm(W×H×D) | 
| IP規格 | IP54 | 
| バッテリ充電器 | 100〜240 VAC, 400mA | 
| プローブ接続 | 12ピン Lemoコネクタ | 
| 標準構成品 | 本体、ラバーケース、肩掛けベルト×2、ペンシルプローブ(表面探傷用)、ウィルドスキャンプローブ(溶接検査用)、充電用ACアダプ ター、試験片、SupervisorPC(CD-R)、USBケーブル、ソフトキャリングバッグ、取扱説明書 | 
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