電磁式/渦電流式両用膜厚計 SWT-8200Ⅱ(サンコウ電子研究所)

電磁式/渦電流式両用膜厚計 SWT-8200Ⅱ

プローブに互換性を持たせることにより、本体とプローブの組み合わせが自由に

 電磁式/渦電流式両用膜厚計。互換性のあるプローブを用途に合わせて選択。プローブの差し替えのみで、「鉄」および「非鉄」の両金属素地上の皮膜を測定可能。
ガイダンス表示によるカンタン操作とあわせ、大容量のデータメモリー、検量線登録機能、パソコンと接続してデータ転送もできます。

機種名 電磁式/渦電流式両用膜厚計
型番 SWT-8200Ⅱ
メーカー名 サンコウ電子研究所


  特長

プローブの互換性

  プローブに互換性を持たせることにより、本体とプローブの組み合わせが自由に。
  SWT-8200Ⅱに、付属の電磁式プローブ(鉄用)と渦電流式プローブ(非鉄金属用)を測定対象物
  に合わせて接続。
  プローブの差し替えのみで、鉄および非鉄の両金属素地上の皮膜を測定できます。



スリムなボディ設計で手持ち作業の疲労低減

  従来の膜厚計(点線部分)と比べるとボディがすっきりスリムに。女性や手の小さい方にも抜群のグリップ感。

  測定前には必ず「ゼロ調整」と「標準調整」の2点調整をします。この2点調整の組み合わせを検量線(素地特性)といいます。
  検量線は、金属素地の材質・形状・厚みなどによって変化しますが、その特性に合致した検量線を登録・選択していつでもすぐに測定作業
  が開始できます。検量線の登録数は10本です。



わかりやすいガイド表示画面

  LCD画面上にメッセージを表示。操作手順を簡単・わかりやすくガイダンスします。



上限値/下限値リミット機能

 登録した各検量線1本ごとに、1組の限界値を設定可能。測定値が上限値/下限値の範囲を外れた場合には、設定限界値の点滅および警報でお知らせ。
 工場の生産過程などで、皮膜が管理基準で定められた範囲内か否かを迅速に判断する際などに役立ちます。


パソコンへのデータ転送

 付属のUSBケーブルでパソコンと接続し、測定データを転送可能。
 測定のたびにリアルタイムで転送、または、メモリーしておいたデータの一括送信も可能。


大容量の測定値メモリー機能

 メモリー機能により、測定・記録作業が1人でもOK。検査作業の省力化とコストダウンが図れます。1日に数千点もの膜厚検査を行う多点測定も余裕でカバー。
 メモリー数は、10,000点。残りメモリーを気にすることなく作業ができます。測定データは、グループ、ブロックなどに細分化して保存。


統計機能内蔵

  全メモリーデータやグループ・ブロック・セクション単位のデータなど、LCD画面上で統計が可能。




  本体LCD表示項目




  用途

電磁式プローブ使用時
(磁性金属上の非磁性皮膜)
渦電流式プローブ使用時
(非磁性金属上の絶縁性皮膜)
素地 鉄・鋼・フェライト系ステンレス アルミ・アルミ合金・銅・オーステナイト系ステンレス
被膜【塗装】 機器、自動車、船舶、橋梁、鉄鋼構造物など アルミ製品、ステンレス製の内外装建材、機械、タンクなど
被膜【ライニング】 樹脂、タールエポキシ、ゴム、ホーロー、シートなど 各種機器、部品、化学プラントなど
被膜【メッキ
(電解ニッケルメッキを除く)】
亜鉛、銅、クローム、スズなど
被膜【陽極酸化皮膜
(アルマイト)】
アルミ製品、アルミサッシ、台所用品、家電製品など
被膜【その他】 メタリコン、パーカライジング、酸化膜、容射膜など



  仕様

● 本体
測定範囲 接続プローブにより異なります
表示方式 グラフィックLCD(データ・メッセージ)
検量線校正 2点校正式(ゼロ点・標準調整点)
検量線メモリー 10本
測定値メモリー 10,000点
データ転送 USB
統計機能 本体内蔵
付加機能 キー入力ロック
オートパワーオフ(約3分)
測定モードの切替(ホールド/連続)
表示分解能切替
検量線 校正値消去
上下限値設定
電源 単3形乾電池×2、専用ACアダプター
使用温度 0~40℃(結露しないこと)
寸法 72(W)×30(H)×156(D)mm
重量 200g

● プローブ
型式 Fe-2.5(鉄素地用) NFe-2.0(非鉄素地用) NFe-8(非鉄素地用)
※オプション
測定方式 磁気誘導式 渦電流式 渦電流式
測定範囲 0~2.50mm 0~2.00mm 0~8mm
表示分解能 1μm:0~9991μm/
切替により0.1μm:0~400/
0.5μm:400~500/
0.01mm:1.00~2.50mm
1μm:0~999μm/
切替により0.1μm:0~400/
0.5μm:400~500/
0.01mm:1.00~2.00mm
1μm:0~999μm/
0.01mm:1~8mm
測定精度 0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内/
101μm~2.50mm:±2%以内
0~100μm:±1μmまたは指示値の±2%以内/
101μm~2.00mm:±2%以内
0~100μm:±(1μm+指示値の2%)/
101μm~8.00mm:指示値の±2%以内
プローブ 1点定圧接触式、Vカット付き 1点定圧接触式、Vカット付き 1点定圧接触式、Vカット付φ35×61mm
測定対象 鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、溶射膜、メッキ(電解ニッケルメッキを除く)など アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など/比較的汎用な測定物用 アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など/比較的厚物の測定物用



  構成品

標準構成品 本体、単3電池×2、ACアダプター、USBドライバソフト(CD-R)、USBケーブル(2.0m)、プローブ(Fe-2.5・NFe-2.0)、ゼロ板ホルダ(鉄素地/非鉄素地)、標準板×5(50μm,100μm,300μm,500μm,1000μm)、収納ケース、取扱説明書



  オプション品

オプション 渦電流式膜厚計プローブ NFe-8