蛍光Ｘ線分析計VANTA ELEMENT VEL-SDD-A3-SPSET（オリンパス）

　 特長

• ・優れた堅牢性・耐久性と高い分析性能
• ・合金・貴金属などの成分確認および材料特定までを最短わずか1秒で測定
• ・ユーザーインターフェースはスマートフォンのように使用と学習が容易
• ・IP54に準拠した防塵、耐湿性能

　 測定可能元素

Alloyメソッド　合金測定

Coatingメソッド　めっき厚測定

　母材は問わず、ニッケルめっきや亜鉛めっきなどの厚さを３層までそれぞれ測定可能で、各層、４０μまでの厚さのものであれば測定できます。

Geochemメソッド　無機材料測定

Soilメソッド　地質調査

PM（Precious Metal）メソッド　貴金属測定

RoHSメソッド　有害金属測定

　 仕様

ディスプレイ	800×480（WVGA）LCDスクリーン、静電容量方式タッチスクリーン、ジェスチャー制御対応
防塵防水性能および ディテクターシャッター	IP54準拠：防塵および全方向からの飛沫水に対する防水性能
データ記録	内蔵4GBメモリー、拡張microSDカードスロット搭載
動作環境	温度：－10°C～45°C、連続デューティサイクル 湿度：非結露の相対的湿度10%～90%
電源	取り外し可能な14.4Vリチウムイオン電池、または18V電力変圧器、100～240VAC、50～60Hz、最大70W
寸法	8.3 x 28.9 x 24.2 cm（W x H x D）
重量	1.32 kg（バッテリー搭載時は1.54 kg）

　 構成品

標準構成品	本体、microSDカード、バッテリー×2、充電器、ACアダプターセット(充電器用)、ACアダプターセット(本体用)、カードリーダー、USBケーブル、通信ソフト(PCSW)、予備カプトンメシュプロピレンウィンドウ×3、取扱説明書(VANTAシリーズユーザーズマニュアル)、取扱説明書(ユーザーインターフェイスガイド)、取扱説明書(PCソフトウェアユーザーインターフェースガイド)、取扱説明書(安全にお使いいただくために)、取扱説明書(製品のご使用にあたり)、収納ケース